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芯片失效分析——复达客户检测案例

客户背景


客户是上海某医疗科技公司，发现其中一台设备中芯片进行读写时操作失败。据委托方提供的信息，正常芯片DAT和GND引脚的阻抗约为10M欧，这颗异常芯片的阻抗无穷大。故委托方委托我司对故障的芯片进行失效分析。


样品名称


IEERAM 芯片


客户需求


对故障的芯片进行失效分析


解决方案


我司工程师对失效芯片1#和良好芯片2#进行测试。分别对芯片进行了外观，X-ray，SAM，开盖观察，电性能测试。探明失效原因由于第二焊点的焊线脱落导致的。


芯片失效分析.png

芯片失效分析.png



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