合成薄膜粗糙度检测——复达客户检测案例
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508 2021年7月12日，科研助理反馈有科研顾问的客户咨询表面粗糙度测试，了解到客户检测需求后，测试工程师第一时间与客户进行电话沟通，通过与客户电话沟通后拉群与客户进行进一步沟通以确认相关细节，具体情况如下：
客户背景
客户某科学院研究所的在读硕士，目前有一批样品想要测试表面形貌和粗糙度，客户的想法是通过多种测试仪器去对比测试。
样品名称
合成薄膜材料
客户需求
粗糙度测试
解决方案
由于客户需要用不同的测试仪器去表征，和客户确认具体用哪几种仪器去测试，给客户推荐的仪器有台阶仪，表面轮廓仪，光学轮廓仪以及AFM；客户最终决定用台阶仪和AFM去表征，确定方法让客户寄样进行测试。实验室收到客户样品后先用台阶仪进行表征，然后用AFM进行表征，测试完成给客户发送测试结果。客户在拿到结果后与客户讨论数据的可用性，由于客户的薄膜基底属于软质基底，所以测出来的结果背景噪音很大，导致测试结果不是很理想。随给客户推荐用光学轮廓仪进行表征，客户对本次结果比较满意，虽然因为样品基地的影响依旧存在些许影响，但数据客户非常满意，客户询问是否有没有更好的解决方式，给客户推荐了一款硬质基底用来测试，客户后续重新制样重新送样，给客户再次进行了测试分析，解决了基底影响的背景噪音问题。
客户反馈
通过一系列的测试和沟通，客户最终得到了非常满意的数据，在客户原有的基础上，通过新的硬质基底制备样品在不影响测试结果的前提下表征了薄膜的相关参数，客户觉得此次测试完美的解决了相关问题并得到了想要的测试结果，打算后续测试继续在这里做，马上有一批新的样品寄送过来测试。
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